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產(chǎn)品展示/ Product display

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高低溫箱 半導(dǎo)體芯片溫濕度環(huán)境檢測設(shè)備

高低溫箱 半導(dǎo)體芯片溫濕度環(huán)境檢測設(shè)備是專為半導(dǎo)體芯片、集成電路(IC)及其他電子元器件的可靠性測試而設(shè)計的高精度溫濕度環(huán)境檢測設(shè)備。它能夠精確模擬產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、存儲及運(yùn)輸過程中可能經(jīng)歷的高低溫、濕熱交變等苛刻環(huán)境條件,是確保芯片質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵設(shè)備。

  • 產(chǎn)品型號:THB-225PF
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-10-24
  • 訪  問  量:278
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詳細(xì)介紹

高低溫箱 半導(dǎo)體芯片溫濕度環(huán)境檢測設(shè)備

產(chǎn)品概述
本設(shè)備是專為半導(dǎo)體芯片、集成電路(IC)及其他電子元器件的可靠性測試而設(shè)計的高精度溫濕度環(huán)境檢測設(shè)備。它能夠精確模擬產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)、存儲及運(yùn)輸過程中可能經(jīng)歷的高低溫、濕熱交變等苛刻環(huán)境條件,是確保芯片質(zhì)量與可靠性的關(guān)鍵設(shè)備。

主要用途

  • 可靠性測試:用于芯片的壽命加速測試、環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)和失效分析。

  • 性能評估:檢驗芯片在不同溫濕度條件下(如高溫高濕、低溫啟動)的電性能穩(wěn)定性。

  • 質(zhì)量控制:在批量生產(chǎn)前后,對樣品進(jìn)行篩選,剔除有潛在缺陷的產(chǎn)品。

  • 科研驗證:為新材料、新封裝工藝的研發(fā)提供可靠的環(huán)境模擬數(shù)據(jù)支持。



高低溫箱 半導(dǎo)體芯片溫濕度環(huán)境檢測設(shè)備


技術(shù)參數(shù)

  • 溫度范圍:-70℃ ~ +180℃(可定制更寬范圍)

  • 濕度范圍:20% ~ 98% R.H.

  • 溫濕度偏差:±0.5℃ / ±2.5% R.H.

  • 升降溫速率:1~5℃/分鐘(線性或非線性可編程,可定制更快速率)

  • 內(nèi)箱材質(zhì):SUS304不銹鋼,確保潔凈耐腐蝕。

  • 控制器:彩色觸摸屏,多段程序編輯,支持USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出。

基本結(jié)構(gòu)
設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)和智能控制系統(tǒng)構(gòu)成。

  • 箱體:采用高強(qiáng)度庫板,內(nèi)部為鏡面不銹鋼,外部為優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑,中間填充環(huán)保保溫材料。

  • 樣品架:專為芯片托盤或測試PCB板設(shè)計,確保氣流均勻通過每個樣品。

工作原理
設(shè)備基于強(qiáng)制空氣對流原理工作。通過控制系統(tǒng)精確指令,制冷系統(tǒng)或加熱系統(tǒng)對循環(huán)空氣中的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié);同時,加濕系統(tǒng)(加熱水產(chǎn)生蒸汽)或除濕系統(tǒng)(通過制冷蒸發(fā)器冷凝除濕)對濕度進(jìn)行精確控制。從而使試驗箱內(nèi)的溫濕度嚴(yán)格按照預(yù)設(shè)的程序曲線運(yùn)行,模擬出所需的環(huán)境場景。

制冷系統(tǒng)
通常采用二元復(fù)疊式制冷技術(shù),由兩套獨(dú)立的制冷循環(huán)系統(tǒng)組成。高溫級系統(tǒng)對低溫級系統(tǒng)的冷凝器進(jìn)行冷卻,從而使得低溫級系統(tǒng)能夠獲得更低的蒸發(fā)溫度,確保設(shè)備能快速、穩(wěn)定地達(dá)到-40℃乃至-70℃以下的超低溫。

高低溫箱 半導(dǎo)體芯片溫濕度環(huán)境檢測設(shè)備


加濕系統(tǒng)
采用淺槽式或鍋爐式蒸汽加濕。該系統(tǒng)通過電加熱管對純凈水進(jìn)行加熱產(chǎn)生純凈蒸汽,再由循環(huán)風(fēng)將其均勻帶入箱內(nèi)。這種方式加濕響應(yīng)快、控制精度高,且對箱內(nèi)潔凈度影響小,非常適合半導(dǎo)體測試。

滿足標(biāo)準(zhǔn)
本設(shè)備的設(shè)計與性能嚴(yán)格符合或超越以下國內(nèi)外測試標(biāo)準(zhǔn):

  • GB/T 2423.1~4 (電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗)

  • IEC 60068-2-1, IEC 60068-2-2, IEC 60068-2-14, IEC 60068-2-30, IEC 60068-2-78

  • JESD22-A104 (溫度循環(huán))

  • JESD22-A101 (穩(wěn)態(tài)溫濕度偏壓)

  • MIL-STD-883 (微電子器件試驗方法)

  • GJB 150A (裝備實驗室環(huán)境試驗方法)


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